產品簡介

常溫半導(dao)體測(ce)(ce)試(shi)(shi) 氣敏測(ce)(ce)試(shi)(shi) 大氣探針(zhen)(zhen)臺是一(yi)種用(yong)于半導(dao)體器件電性能(neng)測(ce)(ce)試(shi)(shi)的(de)(de)重(zhong)要(yao)設備(bei)，通常由精(jing)密(mi)的(de)(de)機械結構、高(gao)性能(neng)的(de)(de)探針(zhen)(zhen)針(zhen)(zhen)頭(tou)和(he)電性能(neng)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀器組成。探針(zhen)(zhen)臺可(ke)以對半導(dao)體芯片、集成電路和(he)其他微電子(zi)器件進(jin)行直接的(de)(de)電性能(neng)測(ce)(ce)試(shi)(shi)，從而為研(yan)究和(he)生產提供有價(jia)值的(de)(de)信(xin)息。探針(zhen)(zhen)臺主要(yao)用(yong)于晶圓加工(gong)之后、封(feng)裝工(gong)藝之前(qian)的(de)(de)CP測(ce)(ce)試(shi)(shi)環節，負(fu)責(ze)晶圓的(de)(de)輸送與定(ding)位(wei)，確保從晶圓表面向精(jing)密(mi)儀器輸送更穩(wen)定(ding)的(de)(de)信(xin)號，實現(xian)更加精(jing)確的(de)(de)數據測(ce)(ce)試(shi)(shi)測(ce)(ce)量。