KT-Z1604T探針(zhen)臺主要應(ying)用于(yu)傳感器(qi)(qi)，半導體，光電(dian)，集成電(dian)路以及封裝(zhuang)的(de)(de)測試。 廣泛應(ying)用于(yu)復(fu)雜(za)、高速(su)器(qi)(qi)件的(de)(de)精密電(dian)氣測量的(de)(de)研發(fa)，旨在確(que)保質(zhi)量及可靠性，并縮減研發(fa)時(shi)間(jian)和器(qi)(qi)件制造工藝的(de)(de)成本(ben)。
    該探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)的承(cheng)載臺(tai)(tai)為(wei)60x60不銹鋼臺(tai)(tai)面，臺(tai)(tai)面最高(gao)可(ke)升溫(wen)到最高(gao)350℃。真(zhen)空(kong)(kong)腔體(ti)設計有進氣口和抽真(zhen)空(kong)(kong)接(jie)口。探(tan)針(zhen)(zhen)臂為(wei)X/Y/Z三軸移動，三個方向(xiang)(xiang)均可(ke)在真(zhen)空(kong)(kong)環境下(xia)精密移位調節，其(qi)中X方向(xiang)(xiang)調節范(fan)圍：0－30mm；y方向(xiang)(xiang)調節范(fan)圍：0－20mm；z方向(xiang)(xiang)調節范(fan)圍：0－20mm；用(yong)戶可(ke)根據(ju)需(xu)要(yao)自行(xing)調節。使用(yong)時將需(xu)檢(jian)測的器件(jian)固(gu)定在加熱(re)臺(tai)(tai)上，再微(wei)(wei)調探(tan)針(zhen)(zhen)支(zhi)架X/Y/Z 方向(xiang)(xiang)行(xing)程，通過顯(xian)微(wei)(wei)鏡觀察(cha)，使探(tan)針(zhen)(zhen)對(dui)準檢(jian)測點后，即可(ke)進行(xing)檢(jian)測