KT-Z1604T真空探針熱臺主要應(ying)用于傳感(gan)器，半(ban)導(dao)體，光電(dian)，集成電(dian)路以及(ji)封裝的(de)(de)測試。 廣泛(fan)應(ying)用于復雜、高速器件的(de)(de)精密電(dian)氣測量的(de)(de)研發(fa)，旨在(zai)確保(bao)質量及(ji)可靠性，并縮減研發(fa)時間和器件制(zhi)造(zao)工藝(yi)的(de)(de)成本。
      該真空探針熱臺的承載臺為60x60不銹鋼臺面，臺面可升溫到350℃。真空腔體設(she)計(ji)有進氣(qi)口和抽真空接口。探針(zhen)臂為X/Y/Z三軸移(yi)動，三個方(fang)向均可在真空環境(jing)下精密移(yi)位調(diao)節(jie)(jie)(jie)，其中X方(fang)向調(diao)節(jie)(jie)(jie)范圍(wei)(wei)：0－30mm；y方(fang)向調(diao)節(jie)(jie)(jie)范圍(wei)(wei)：0－20mm；z方(fang)向調(diao)節(jie)(jie)(jie)范圍(wei)(wei)：0－20mm；用戶(hu)可根據需(xu)要(yao)自行(xing)調(diao)節(jie)(jie)(jie)。使(shi)用時(shi)將(jiang)需(xu)檢(jian)測(ce)的器件固定在加(jia)熱臺上，再微(wei)調(diao)探針(zhen)支架X/Y/Z 方(fang)向行(xing)程，通過顯微(wei)鏡(jing)觀察，使(shi)探針(zhen)對準檢(jian)測(ce)點后，即(ji)可進行(xing)檢(jian)測(ce)
真(zhen)空探針熱臺(tai)產品圖片