鍍金鎢針真空探針臺 高溫真空熱臺主要應(ying)用(yong)于半(ban)導(dao)體行業(ye)、光電行業(ye)、集成電路(lu)以及封(feng)裝的(de)測試。廣泛應(ying)用(yong)于復(fu)雜、高速器件(jian)的(de)精密電氣測量的(de)研(yan)發，旨在確(que)保(bao)質量及可靠性，并縮減研(yan)發時間(jian)和器件(jian)制造(zao)工藝的(de)成本

    鍍金鎢針真空探針臺 高溫真空熱臺主(zhu)要用(yong)于氣體(ti)敏(min)感(gan)材料(liao)或其他對環境敏(min)感(gan)性材料(liao)中的(de)電信號測試(shi)。測試(shi)腔體(ti)內部裝有不銹鋼加熱承載臺(tai)(tai)，臺(tai)(tai)面為φ30，臺(tai)(tai)面可升溫到400℃。臺(tai)(tai)面四周裝有微(wei)型3軸(zhou)可移動鎢鋼探(tan)針，特別適合微(wei)小未封(feng)裝的(de)叉指(zhi)電極等傳感(gan)器(qi)測試(shi)。

    該腔體(ti)設計有進氣(qi)口和(he)抽真(zhen)空(kong)接(jie)口其真(zhen)空(kong)度用機(ji)械泵(beng)可達＜5Pa分子泵(beng)可達＜-3Pa。真(zhen)空(kong)信號連接(jie)處(chu)使用高級真(zhen)空(kong)電極信號接(jie)頭(tou)，保(bao)證氣(qi)密性(xing)及(ji)抗干擾性(xing)能。使用時(shi)將需將待檢測的(de)器件方在加(jia)熱臺面(mian)，探針(zhen)尖處(chu)由(you)3軸可移動(dong)探針(zhen)手動(dong)調節移動(dong)至被測試器件的(de)引腳處(chu)，外部(bu)信號線連接(jie)測試儀器來測試電學信號。

          KT-Z1604T探針臺主要(yao)應用于傳(chuan)感器(qi)(qi)，半(ban)導體，光電(dian)(dian)，集成電(dian)(dian)路以(yi)及封裝的(de)測試。 廣泛應用于復雜、高速器(qi)(qi)件的(de)精密電(dian)(dian)氣測量(liang)的(de)研(yan)發，旨(zhi)在確保(bao)質量(liang)及可靠性，并縮減研(yan)發時間和(he)器(qi)(qi)件制造工藝的(de)成本。

        該探(tan)針(zhen)臺的(de)(de)承載臺為(wei)60x60不銹鋼臺面，臺面可(ke)(ke)升溫到(dao)350℃。真(zhen)空(kong)(kong)腔體設計有進(jin)氣口(kou)和抽真(zhen)空(kong)(kong)接口(kou)。探(tan)針(zhen)臂為(wei)X/Y/Z三(san)(san)軸移(yi)動，三(san)(san)個方(fang)向(xiang)均可(ke)(ke)在真(zhen)空(kong)(kong)環境下精密移(yi)位調(diao)(diao)節(jie)，其中(zhong)X方(fang)向(xiang)調(diao)(diao)節(jie)范圍：0－30mm；y方(fang)向(xiang)調(diao)(diao)節(jie)范圍：0－20mm；z方(fang)向(xiang)調(diao)(diao)節(jie)范圍：0－20mm；用戶可(ke)(ke)根據需要自行調(diao)(diao)節(jie)。使用時將需檢測(ce)的(de)(de)器(qi)件固定在加熱臺上，再微調(diao)(diao)探(tan)針(zhen)支架X/Y/Z 方(fang)向(xiang)行程，通過顯微鏡觀(guan)察(cha)，使探(tan)針(zhen)對準檢測(ce)點后，即(ji)可(ke)(ke)進(jin)行檢測(ce)